涂層測(cè)厚儀
產(chǎn)品名稱:涂層測(cè)厚儀
主要用途:
本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍 |
0-1250mm |
測(cè)量精度 |
±3%H±1.5um |
顯示精度 |
0~99.99um:0.1um 100um以上:1um |
最小基體 |
10X10mm |
最小曲率 |
凸:5mm 凹:25mm |
最薄基體 |
0.5mm |
環(huán)境溫度 |
0℃~40℃相對(duì)濕度:不超過85% |
電源 |
DC9VX1 | |